阿摩線上測驗
登入
首頁
>
技檢◆化學-無機物檢驗-甲級
> 114年 - 03002 化學─無機物檢驗 甲級 工作項目 03:無機儀器分析 151-219(2025/10/21 更新)#132511
114年 - 03002 化學─無機物檢驗 甲級 工作項目 03:無機儀器分析 151-219(2025/10/21 更新)#132511
科目:
技檢◆化學-無機物檢驗-甲級 |
年份:
114年 |
選擇題數:
69 |
申論題數:
0
試卷資訊
所屬科目:
技檢◆化學-無機物檢驗-甲級
選擇題 (69)
複選題
151. 下列有關原子吸收光譜法的敘述,哪些正確? (A)可使用中空陰極管作為光源 (B)中空陰極管的陰極上塗有欲測定的金屬元素 (C)中空陰極燈管只可測單一種元素 (D)多元素燈管的靈敏度通常較單管單元素佳 。
複選題
152. 下列有關 AAS 火焰法分析金屬元素的敘述,哪些正確 (A)通常採用較低溫之火焰去除離子化干擾 (B)AAS 火焰法中之光譜干擾,可改變火焰溫度以降低 (C)AAS 火焰法中之光譜干擾,可以背景校正法以降低 (D)AAS 空氣-丙烷火焰法適合分析鈉元素 。
複選題
153. 下列有關離子選擇電極的應答時間,哪些正確 (A)濃試樣的應答時間比稀試樣長 (B)光滑的電極表面和較薄的膜相可縮短應答時間 (C)共存離子會影響應答時間 (D)在一定溫度範圍內,升高溫度會縮短應答時間 。
複選題
154. 下列有關離子選擇電極的敘述,哪些正確 (A)每次測量前都要清洗電極,使電位達定值,以避免記憶效應 (B)進行測量時,需用磁攪拌器攪拌溶液,以減小濃度極化 (C)不一定有內參考電極與內參考溶液 (D)用於陰、陽離子種類及含量測量 。
複選題
155. 關於流動注入分析(FIA)系統的敘述,下列哪些正確 (A)乃是利用樣品注入閥將樣品溶液注入載送液中,並與試劑混合反應後進行偵測 (B)FIA 系統中最常使用的是蠕動式泵 (C)最常使用的為旋轉式樣品注入閥 (D)FIA 常串聯原子吸收光譜儀使用 。
複選題
156. 有關極譜分析法的半波電位,下列敘述哪些正確 (A)半波電位是擴散電流為極限擴散電流一半時的電極電位 (B)半波電位相同的,都是同一種物質(C)半波電位與其樣品溶液的組成有關 (D)半波電位是極譜定量分析的依據 。
複選題
157. 下列哪些是影響毛細管電泳分離之主要因素 (A)pH 值 (B)偵測器種類 (C)毛細管管徑 (D)操作電壓 。
複選題
158. 下列哪些光譜分析法與發射無關? (A)紫外光光譜分析法 (B)可見光光譜分析法 (C)螢光光譜分析法 (D)紅外光光譜分析法 。
複選題
159. 下列哪些方法可降低恆電位電解的濃差極化 (A)增加工作電極面積 (B)提高溶液的溫度 (C)加強機械攪拌 (D)降低溶液的濃度 。
複選題
160. 以電位分析法測定金屬物質時,可使用哪些電極 (A)汞 (B)鉑 (C)鎢 (D)塗佈薄汞膜的玻璃碳 。
複選題
161. 欲以 AAS 火焰法分析水中鎘時,若溶液中含高濃度 NaCl 時,會形成下列哪些干擾 (A)分子吸收 (B)散射 (C)霧化效率改變 (D)離子化干擾 。
複選題
162. 熱重量分析法可提供下列哪些資訊 (A)判斷樣品的熱反應為吸熱或放熱(B)由逸出氣體可了解樣品組成 (C)可分析混合物樣品的組成及含量 (D)可量測樣品的質量改變 。
複選題
163. 下列哪些方法可用來校正原子吸收光譜法中的背景干擾 (A)連續光源校正法 (B)Zeeman 效應法 (C)Smith- Hieftje 校正法 (D)加入內標物校正 。
複選題
164. 以 AAS 火焰法分析金屬時,哪些可以去除化學性干擾 (A)加入釋放劑 (B)採用背景校正 (C)採用較高溫的火焰 (D)採用較低溫的火焰 。
複選題
165. 以原子發射光譜法進行元素定量分析時,下列哪些不是加入內標物的目的 (A)提高靈敏度 (B)提高準確度 (C)減少化學干擾 (D)降低背景 。
複選題
166. 下列有關極譜分析法的敘述,哪些錯誤 (A)加入支持電解質是為了消除遷移電流發生 (B)濃差極化的大小取決於支持電解質的濃度 (C)濃差極化後,擴散電流的大小取決於離子的擴散速度 (D)極限擴散電流的大小與被分析物質濃度無關 。
複選題
167. 下列哪些元件伏安測定法會使用 (A)伏特計 (B)離子選擇電極 (C)電導計 (D)汞電極 。
複選題
168. 下列哪些光譜方法適用於研究固體的表面組成 (A)AAS (B)XRF (C)NMR (D)AES 。
複選題
169. 下列哪些是原子螢光光譜法與 X 螢光光譜法的不同處 (A)光致發光 (B)光源 (C)單色器 (D)偵測器 。
複選題
170. 在電解分析中,為使被測物質純淨、致密、堅固地沉積在電極上,可採用下列哪些措施 (A)控制適當的 pH 或以錯合金屬離子形式電解 (B)升高溫度 (C)反應的電流密度不宜過小 (D)攪拌溶液 。
複選題
171. 下列哪些是氣相層析儀的偵測器 (A)光散射偵測器 (B)熱傳導偵測器 (C)電漿原子偵測器 (D)火燄游離偵測器 。
複選題
172. 下列有關離子分析儀器之敘述,哪些正確 (A)分離管柱大多填充有機離子交換樹脂 (B)一般使用電導度偵測器 (C)抑制管柱可降低訊號雜訊比 (D)可用以分析水中的陰陽離子 。
複選題
173. 下列有關 HPLC 偵測器的敘述,哪些正確 (A)HPLC 最常用的偵測器為螢光偵測器 (B)HPLC 最常用的偵測器為紫外光偵測器 (C)光二極體陣列偵測器適合用於開發新成分或是未知條件時使用 (D)在高波長(800 nm 以上),光二極體陣列偵測器相對於光電倍增管準確度較差 。
複選題
174. 下列有關層析分析樣品的敘述,哪些正確 (A)樣品注射前進行過濾,可避免阻塞 (B)樣品分析得到之訊號值(層析高度、層析面積、電導度值)不需在標準品檢量線範圍內 (C)如樣品需稀釋,稀釋後得到之訊號值須由檢量線公式換算再乘回原稀釋倍數而獲得濃度 (D)加入內標物可作為層析分析的定量方法 。
複選題
175. 下列有關氣相層析的載體氣體的敘述,哪些正確 (A)載流氣體通常用高壓鋼瓶儲裝 (B)選用載流氣體與所使用的偵測器無關 (C)載流氣體必須具有化學惰性 (D)氮氣適合為氣相層析的載流氣體 。
複選題
176. 原子發射光譜是利用譜線的波長及其強度進行定性何定量分析的,被激發原子發射的譜線可能出現的光區是 (A)紫外光區 (B)可見光區 (C)紅外光區 (D)紫外光區、可見光區及紅外光區都可 。
複選題
177. 下列哪些離子源不適用於質譜法分析無機材料 (A)化學游離 (B)電子撞擊(C)高頻火花 (D)電灑游離 。
複選題
178. 下列有關極譜分析的操作,哪些正確 (A)通入氮氣 (B)攪拌 (C)恒溫操作 (D)加入表面活性劑 。
複選題
179. 下列選項,哪些在雙波長分光光譜儀與單波長分光光譜儀中是相同的 (A)光源的種類 (B)檢測器的個數 (C)吸光槽個數 (D)使用單色光器的個數 。
複選題
180. 下列敘述哪些正確? (A)電磁波的頻率,通常以"λ"表示 (B)λ越長,能量越低 (C)波數常以㎝-1 表示 (D)波數愈大,能量愈高 。
複選題
181. 下列關於質譜分析的敘述,哪些正確? (A)能提供同位素的資訊 (B)質譜圖中最強的離子峰稱為基峰 (C)質譜圖縱軸顯示離子的相對強度 (D)分子離子峰出現在質荷比為分子量之處 。
複選題
182. 下列哪些是質譜儀的組件? (A)離子化室 (B)離子收集器 (C)發射器 (D)質量分析器 。
複選題
183. 下列哪些主要作為紅外光譜儀的光源? (A)熾熱鎳鉻絲圈 (B)氙燈 (C)能士特燈 (D)中空陰極燈 。
複選題
184. 下列哪些光譜方法適用於固體表面成分的研究? (A)AAS (B)XRF (C)ESCA(D)AES 。
複選題
185. 下列哪些偵測器適用於螢光光譜儀? (A)光電倍增管 (B)矽光電二極管 (C)熱電偶 (D)蓋革計數器 。
複選題
186. 下列哪些電極材料適用於伏安法以測定金屬物種? (A)汞 (B)鉑 (C)鎢 (D)塗薄汞膜的碳棒 。
複選題
187. 下列哪些分析方法需要一個單色 X 射線作為激發源? (A)ESR (B)ESCA (C)XRF (D)UPS 。
複選題
188. 下列關於螢光光度法之敘述,哪些正確? (A)溶劑的性質會影響螢光強度(B)靈敏度較吸光光度法低 (C)相對螢光強度不受溫度之影響 (D)光譜範圍包括紫外光、可見光及近紅外光 。
複選題
189. 下列關於螢光光度法之敘述,哪些正確? (A)適用於長鏈不飽和碳氫化合物之測定 (B)適用於多環芳香烴化合物之測定 (C)螢光的激發光較放射光之波長為短 (D)螢光之激發波長一般為紫外光範圍 。
複選題
190. 下列有關玻璃電極之敘述,哪些錯誤? (A)玻璃膜以測定雙價離子為主(B)未吸濕的玻璃膜對酸鹼度有反應 (C)當 pH>9,電極對鹼金族離子亦有電位效應,易得到較低的讀數 (D)溶液 pH<0.5 時,誤差會導致 pH 測值偏高 。
複選題
191. 下列關於螢光光度法的敘述,哪些正確? (A)需有放射波長與激發波長(B)常以一定濃度之奎寧硫酸溶液作為標準品溶液 (C)螢光之強度與螢光量子產率有關 (D)螢光量子產率大於 1 才有螢光產生 。
複選題
192. 下列有關分光光度法分析的溶劑截止波長之敘述,哪些正確? (A)表示在此波長以下此溶劑不適用 (B)截止波長一般是以能 50%透光為界限 (C)乙腈的截止波長為 250nm (D)水的截止波長為 200nm 。
複選題
193. 下列關於螢光測定法的敘述,哪些正確? (A)未知物的螢光光譜與其所溶解之溶劑無關 (B)改變溶劑,會影響螢光的強度 (C)未知物的溫度上升,則螢光增強 (D)改變溶劑,會影響螢光的分布範圍 。
複選題
194. 下列哪些不能作為可見光波長範圍內的吸光槽材料? (A)NaCl (B)KBr (C)石英 (D)矽玻璃 。
複選題
195. 電位計使用白金電極為指示電極測定氧化還原滴定的終點時,下列敘述哪些錯誤? (A)此分析方法為電流滴定法 (B)此分析方法為電位滴定法 (C)具還原能力的物質在陽極發生還原反應 (D)滴定時電極表面有法拉第電流 。
複選題
196. 光電倍增管在什麼波長範圍可作為光子偵測器? (A)紫外光 (B)紅外線 (C)遠紅外線 (D)可見光 。
複選題
197. 下列哪些是伏安分析法所需要的設備? (A)電壓表 (B)電流計 (C)電導電極(D)滴汞電極 。
複選題
198. 下列有關極譜分析操作之敘述,哪些正確? (A)在測定前通氮氣,可以驅除溶氧 (B)加入明膠溶液,可以去除極大電流的干擾 (C)加入大量電解質,可以去除極大電流的干擾 (D)加入陰離子界面活性劑,可以去除極大電流的干擾 。
複選題
199. 哪些方法通常可以有效降低 AA 光譜儀的化學干擾? (A)在溶液中加入釋放劑 (B)在溶液中加入一個輻射緩衝溶液 (C)在溶液中加入一個解離抑制劑 (D)使用 Zeeman 效應的儀器 。
複選題
200. 下列哪些方法無法提高庫侖分析法測定的選擇性? (A)工作電極變小 (B)高的電流 (C)控制電位 (D)控制時間 。
複選題
201. 下列有關感應偶合電漿原子發射光譜法(ICP-AES)應用的敘述,哪些正確? (A)經由電漿偶合產生激發態 (B)可同時測定多種元素 (C)僅能分析鹼金屬或鹼土金屬元素 (D)主要干擾型態為化學干擾 。
複選題
202. 下列電化學分析法的四個參數所組的四個組合中,下列哪些與極譜無關? (A)電流-電壓 (B)電阻-時間 (C)電壓-時間 (D)電流-時間 。
複選題
203. 甘汞電極是常用的參考電極,此電極中包含下列哪些? (A)Hg
2
Cl
2
(B)KCl(C)HgCl
2
(D)AgCl 。
複選題
204. 下列有關螢光光譜分析的敘述,哪些正確? (A)一般可測至 10
-7
~10
-8
M的濃度 (B)激發光較放射光之波長還短 (C)發射光與偵測器呈直角 (D)是測定激態電子返回基態所發散出的熱 。
複選題
205. 下列有關極譜儀法的敘述,哪些正確? (A)半波電位能用來測定溶液濃度(B)極譜波的半波電位能用來進行定性分析 (C)殘餘電流能用來進行定性分析 (D)擴散電流能用來測定溶液之濃度 。
複選題
206. 以 AAS 火焰法分析金屬,若溶液中含高濃度 NaCl 時,會形成下列哪些干擾? (A)化學性干擾 (B)離子化干擾 (C)霧化效率改變 (D)散射 。
複選題
207. 下列有關極譜儀分析半波電位的敘述,哪些錯誤? (A)可用於定量 (B)可鑑定化合物 (C)不受溶液組成影響 (D)受 pH 影響 。
複選題
208. 下列哪些能用來校正原子吸收光譜法中的背景干擾? (A)連續光源校正法(B)Zeeman 效應法 (C)標準添加法 (D)Smith-Hieftje 校正法 。
複選題
209. 下列哪些分析方法屬於光譜法? (A)化學發光法 (B)核磁共振法 (C)X 射線繞射法 (D)折射法 。
複選題
210. 以 AAS 火焰法分析金屬時,下列哪些方法無法去除離子化干擾? (A)採用背景校正 (B)溶劑萃取 (C)採用較低溫之火焰 (D)添加更易離子化之元素 。
複選題
211. 下列有關極譜儀中的滴汞電極與飽和甘汞電極之敘述,哪些錯誤? (A)兩個電極都是極化電極 (B)滴汞電極是參考電極 (C)飽和甘汞電極是參考電極 (D)飽和甘汞電極是去極化電極,滴汞電極是極化電極 。
複選題
212. 下列有關原子發射光譜分析法的敘述,哪些正確? (A)適用於微量元素分析 (B)可測定非金屬元素 (C)選擇性好,干擾少 (D)可測定元素價態 。
複選題
213. 兩金屬電極分別浸於各自金屬鹽之水溶液,以鹽橋構成電池。下列有關此電池電極表面化學反應的敘述中,哪些正確? (A)陰極是金屬電極時,其表面溶解,電極重量減輕 (B)電極表面發生的反應屬氧化還原反應 (C)陰極發生氧化反應,電極表面會出現還原性電解質 (D)陽極與陰極以電線連接,電子經電線由陽極移到陰極 。
複選題
214. 下列哪些類型的離子源可以使用在"飛行時間質譜儀"? (A)MALDI (B)場脫附 (C)電灑游離源(ESI) (D)快速原子撞擊與液體二次電離(LSI) 。
複選題
215. 下列哪些半電池可以做為參考電極? (A)Cu(NH
3
)
4
2 +
(1M)NH
3
(1atm)Pt (B)H
2
(1atm)H
+
(1M)/Pt (C)Hg
2
Cl
2
(sat'd)KCl(1M)/Hg (D)AgCN(sat'd)KCN(1M)Ag 。
複選題
216. 下列哪些是電位滴定法相較於傳統滴定的優勢? (A)以電位滴定法分析大量樣品速度較快 (B)電位滴定法的設備較便宜 (C)電位滴定法更準確 (D)電位滴定可用於有色溶液 。
複選題
217. 電解分析的理論基礎是 (A)電解反應式 (B)法拉第電解定律 (C)擴散定律 (D)比耳定律 。
複選題
218. 微庫侖滴定分析法常加入大量去極劑,下列哪些不是加入去極劑的目的? (A)增加溶液導電性 (B)抑制副反應,提高電流效率 (C)控制反應速度(D)促進電極反應 。
複選題
219. 下列哪些是參考電極應具備的條件? (A)電極反應是可逆的 (B)溫度係數小 (C)不因時間而變 (D)其電極電位應為零 。
申論題 (0)