複選題25. 有關掃描式電子顯微鏡及X-射線能譜分析，下列敘述何者正確？ (A) 可顯現射擊殘跡的形狀並能分析其特徵元素 (B) 它是以X-射線為光源 (C) 測量時檢體不必有導電性 (D) 電子顯微成像是因檢體表面產生二次電子及背向散射電子所引起 (E) 電子顯微鏡最大放大倍率與光學顯微鏡相當