10. 下列何種位面測量方式可測量粉末、顆粒、固粒之位面
(A)電容式
(B)差壓式
(C)電導式
(D)位移式。

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統計： A(3), B(1), C(0), D(0), E(0) #2247256

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電容式位面測量方式可測量粉末、顆粒、固粒之位面
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