13.下列何種方法最適合測量50 nm大小之顆粒?
(A)optical microscopy
(B)electron microscopy
(C)sedimentation
(D)sieve analysis
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統計: A(397), B(2765), C(298), D(277), E(0) #3198751
統計: A(397), B(2765), C(298), D(277), E(0) #3198751
詳解 (共 4 筆)
#6020272
補充相關題目
(A) 算數平均粒徑
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(C) 史特克當量粒徑
(D) 投影粒徑
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(B) 容積表面平均粒徑
(C) 史特克當量粒徑
(D) 投影粒徑
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(A) 算數平均粒徑
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(C) 史特克(Stokes’)當量粒徑
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(A) 篩網過篩
(B) 顯微鏡觀察
(C) Coulter counter測定
(D) Andersen pipette測沈降速率
(B) 顯微鏡觀察
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