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自來水事業技術◆化驗人員-甲級
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100年 - 經濟部 第2次(100年) 全國性自來水事業技術人員考驗題目與答案_甲級_化驗人員#82115
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試題詳解
試卷:
100年 - 經濟部 第2次(100年) 全國性自來水事業技術人員考驗題目與答案_甲級_化驗人員#82115 |
科目:
自來水事業技術◆化驗人員-甲級
試卷資訊
試卷名稱:
100年 - 經濟部 第2次(100年) 全國性自來水事業技術人員考驗題目與答案_甲級_化驗人員#82115
年份:
100年
科目:
自來水事業技術◆化驗人員-甲級
15. 以原子吸收光譜儀進行分析時,光譜干擾可利用______的方式來改善。
(A) 減少狹縫寬度
(B) 降低基質效應
(C) 添加化學試劑
(D) 稀釋樣品
正確答案:
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