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試題詳解

試卷：98年 - 098 中央警察大學_學士班二年制技術系入學考試_刑事警察學系：刑事鑑識概論#39083 | 科目：警大◆現場及證物處理與鑑識概要(刑事鑑識概論)

試卷資訊

試卷名稱：98年 - 098 中央警察大學_學士班二年制技術系入學考試_刑事警察學系：刑事鑑識概論#39083

年份：98年

科目：警大◆現場及證物處理與鑑識概要(刑事鑑識概論)

16. 掃描電子顯微/X-射線能譜分析法(SEM /EDX)於射擊殘跡鑑識之應用，何者不適合？
(A)分析所含之鉛、銻、鋇等元素
(B)量測球形射擊殘跡顆粒之直徑
(C)硝化甘油和二硝基甲苯等成分之分析
(D)觀察射擊殘跡其顆粒之型態特徵
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未解鎖
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