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試題詳解

試卷：111年 - 111 物聯網應用工程師能力鑑定初級試題01：O11物聯網基礎架構概論#117848 | 科目：物聯網基礎架構概論

試卷資訊

試卷名稱：111年 - 111 物聯網應用工程師能力鑑定初級試題01：O11物聯網基礎架構概論#117848

年份：111年

科目：物聯網基礎架構概論

28. 輻射傷害是指下列何種輻射所造成的？
(A) 游離輻射
(B) 有熱效應的非游離輻射
(C) 無熱效應的非游離輻射
(D) 熱電能輻射
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詳解 (共 1 筆)

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未解鎖
題目解析 題目詢問的是輻射傷害的來源，選...
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