40. X 光非破壞性檢查用於
(A)磁性機件外部裂紋
(B)磁性及非磁性材料其內部裂紋
(C)金屬外表裂紋
(D)非磁性材料外部裂紋 。

答案：登入後查看
統計： A(0), B(1), C(0), D(0), E(0) #3758611