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試題詳解

試卷:114年 - 114-1 物聯網應用能力鑑定_初級試題 01:物聯網基礎架構概論#129531 | 科目:物聯網基礎架構概論

試卷資訊

試卷名稱:114年 - 114-1 物聯網應用能力鑑定_初級試題 01:物聯網基礎架構概論#129531

年份:114年

科目:物聯網基礎架構概論

50. UHF RFID 標籤天線在受到外部電磁環境干擾時,「最」有可能受到的直接影響是什麼?
(A) 標籤的內部資料被覆蓋
(B) 標籤的讀取距離縮短或失效
(C) 標籤的序列號變化
(D) 標籤的工作溫度降低

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詳解 (共 1 筆)

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