6. 關於工件量測之敘述，下列何者正確？ (A) 光學平板 ( Optical flat ) 乃利用光的干渉原理來進行曲面量測 (B) 裕度又稱容差，正裕度是孔比軸小，負裕度是孔比軸大 (C) 為了降低阿貝誤差，應該盡量減少量具軸線與工件軸線之間的距離 (D) 表面織構的結構輪廓，代表濾去極長波的參數