試題詳解

試卷：無年度 - 03002 化學─無機物檢驗甲級工作項目 03：無機儀器分析 51-109#19248 | 科目：技檢◆化學-無機物檢驗-甲級

試卷名稱：無年度 - 03002 化學─無機物檢驗甲級工作項目 03：無機儀器分析 51-109#19248

科目：技檢◆化學-無機物檢驗-甲級

複選題
93. 下列哪些方法可用來校正原子吸收光譜法中的背景干擾
(A)連續光源校正法
(B)Zeeman 效應法
(C)Smith- Hieftje 校正法
(D)加入內標物校正。

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