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技師◆材料分析技術
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107年 - 107 專技高考_冶金工程技師:材料分析技術#73022
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題組內容
二、對一結晶材料,以 X 光進行繞射分析可以得知材料的晶體結構。
⑴請說明此技術的分析原理。(5 分)
其他申論題
⑷柏松比(poisson’s ratio)
#297524
⑴請說明 X 光源的產生方式。
#297525
⑵如何以 X 光作為光源進行材料的組成分析?舉一例並說明其原理。
#297526
⑶如何以 X 光作為光源分析材料的化學鍵結?舉一例並說明其原理。
#297527
⑵比較粉末樣品與磊晶薄膜樣品的 X 光繞射圖譜有何差異?(10 分)
#297529
⑶比較以 X 光和電子束進行繞射分析可能產生那些差異?(10 分)
#297530
⑴請問解析度的定義?(5 分)
#297531
⑵為什麼電子顯微鏡的解析度比光學顯微鏡高?(5 分)
#297532
⑶光和電子束的路徑控制方式有何差別?(10 分)
#297533
⑷穿透式電子顯微鏡的解析度是多少?(5 分)
#297534