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技師◆材料分析技術
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111年 - 111 專技高考_冶金工程技師：材料分析技術#111946
> 申論題
題組內容
三、於電子顯微鏡中，試說明： （每小題 5 分，共 15 分）
(一)其聚焦的透鏡（Lens）與光學顯微鏡的透鏡有何差異與相似之處？
相關申論題
一、在拉伸實驗所獲得的負荷伸長曲線（load-elongationcurve），如何轉換成 工程應力應變曲線（engineeringstress-straincurve）？（10分）試詳述工 程應力應變曲線與真應力應變曲線（truestress-straincurve）的差異性？ （10分）
#479536
(一)X-光進行繞射（X-raydiffraction,XRD）
#479537
(二)掃描式電子顯微鏡（scanningelectronmicroscopy,SEM）的影像（相片）
#479538
(三)掃描式電子顯微鏡中X-光能量散佈光譜（Energydispersive spectroscopy,EDS）
#479539
(四)掃描式電子顯微鏡中X-光波長色散佈光譜（Wavelengthdispersive spectroscopy,WDS）
#479540
(五)掃描式電子顯微鏡中背向散射電子繞射（Electronbackscattered diffraction,EBSD）
#479541
(二)其燈絲（filament）產生電子束的兩種主要方式。
#479543
(三)其產生電子束的這兩種方式中，何者的影像解析度為佳？並說明原因。
#479544
(一)溫度於(A)–20℃（零下20℃）與(B)25°C時，何者溫度(A)或(B)通常金 屬材料試片破壞韌性會較高？並說明原因。
#479545
(二)當變形的速率（Strainrate）自，通常金屬材 料試片破壞韌性會上升或下降？並說明原因。
#479546
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