申論題 - 阿摩線上測驗

申論題資訊

試卷：110年 - 110 高等考試_三級_環境檢驗、化學工程：儀器分析#102732
科目：儀器分析
年份：110年
排序：9

三、X 光電子能譜儀為表面分析的有效工具，可以偵測樣品表面奈米等級厚度內的訊號，請說明：（每小題 10 分，共 20 分）

(二)對鐵元素來說，中性鐵原子以及二價鐵離子（Fe2+）在 X 光電子能譜儀分析圖譜中，其 Fe2p 光電子訊號具有不同束縛能的原因。