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111年 - 111 地方政府特種考試_三等_環境檢驗:儀器分析#112379
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申論題
試卷:111年 - 111 地方政府特種考試_三等_環境檢驗:儀器分析#112379
科目:儀器分析
年份:111年
排序:0
申論題資訊
試卷:
111年 - 111 地方政府特種考試_三等_環境檢驗:儀器分析#112379
科目:
儀器分析
年份:
111年
排序:
0
申論題內容
(二)掃描電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope, SEM)和電子微探針 (Electron Microprobe, EMP)對固體研究的多元性是來自於電子束與固 體作用所產生的各種不同訊號,請說明之。 (10 分)