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申論題資訊

試卷:109年 - 109 高等考試_三級_材料工程:材料分析#88968
科目:材料分析
年份:109年
排序:0

題組內容

三.

申論題內容

⑵以XPS進行矽晶體表面分析,如何從矽之訊號判斷是否有寄生氧化物(native oxide)生成?又如何從訊號特徵估計出氧化之狀況或程度?