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技師◆材料分析技術
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109年 - 109 專技高考_冶金工程技師:材料分析技術#93301
> 申論題
題組內容
三、於掃描式電子顯微鏡(scanning electron microscopy, SEM)表面形態成像中: (每小題 10 分,共 30 分)
⑵既使是金屬試片,試述為何有時也會鍍導電層?
相關申論題
⑴試述拉伸試片為何要設定標距(gauge length)?其目的為何?
#384789
⑵以試片標距為依據,詳述如何設定拉伸變形的應變率(strain rate)?
#384790
二、試述掃描穿隧顯微鏡(scanning tunnel microscopy, STM)工作原理與主要應用,並說明為何可以不需要真空環境中操作?(10 分)
#384791
⑴不論是否為導體的試片,試述試片邊緣總是會有較強的訊號?
#384792
⑶承題(二),試述此導電層為金(Au)或碳(C)?請說明原因。
#384794
四、試述聚焦離子束(focused ion beam, FIB)的成像與工作原理,並敘述 FIB 與掃描式電子顯微鏡(scanning electron microscopy, SEM)在功能與應用上的相似與差異性。(10 分)
#384795
(一)試述歐傑(Auger)電子的化學分析原理,並與 X 光的 EDS(energy dispersive spectroscopy)分析做比較。(10 分)
#384796
⑵進行歐傑(Auger)電子的化學定量分析時,試述為何要取用訊號的波 峰-波峰(peak-to-peak)強度,而非僅一個波峰(peak)?(10 分)
#384797
(二)試片表面有較大的張應力(Surfacetension)存在,金屬材料試片疲勞 性質會提升或下降?並說明原因。
#479548
(一)試片表面經過兩種(A)與(B)研磨拋光處理方式:(A)研磨至砂紙#200 號,(B)研磨至砂紙#2000號再經電解拋光(Electropolishing) ,何者表 面處理後金屬材料試片有較佳的疲勞性質?並說明原因。
#479547
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