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申論題資訊

試卷:106年 - 106 高等考試_三級_測量製圖:航空測量學與遙感探測#63050
科目:航空測量學與遙感探測
年份:106年
排序:0

申論題內容

一、試說明 K-means 群集分析技術應用於多光譜影像非監督式分類之步驟,並概述一般 採用之二種分類法則。(25 分)