三、二次離子質譜儀（SIMS）與拉賽福背向散射分析儀（RBS）是兩個相似 的成分分析技術，同樣以離子為入射源且以離子為接收訊號源，試申論 在碰撞機制、結果呈現、提供分析資訊有何差異性。 （25 分）