申論題 - 阿摩線上測驗

申論題資訊

試卷：97年 - 097年民航人員、97年法務部調查局調查人員化學鑑識組#38959
科目：儀器分析
年份：97年
排序：0

三、掃描電子顯微鏡/X 射線能譜法（SEM/EDS）在鑑識上常用以觀測微細碎粒的形狀及分析所含的金屬元素。試說明⑴微細碎粒在螢幕上構成影像的原理；⑵ X 射線產生的機制及 K 系列（K series）譜線及 L 系列（L series）譜線的區別。並說明所得 X 射線能譜的特性與用途。（25 分）