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100年 - 100 地方政府特種考試_四等_測量製圖:測量學概要(包括地籍測量)#45189
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申論題
試卷:100年 - 100 地方政府特種考試_四等_測量製圖:測量學概要(包括地籍測量)#45189
科目:測量學(概要、大意)
年份:100年
排序:0
申論題資訊
試卷:
100年 - 100 地方政府特種考試_四等_測量製圖:測量學概要(包括地籍測量)#45189
科目:
測量學(概要、大意)
年份:
100年
排序:
0
申論題內容
二、使用經緯儀進行水平角度觀測前應先檢校儀器,試問經緯儀結構上應滿足之條件為 何?如何檢校?請分別說明之。(20 分)