申論題 - 阿摩線上測驗

申論題資訊

試卷：107年 - 107 高考二級儀器分析#72419
科目：儀器分析
年份：107年
排序：0

二、偏光顯微鏡（Polarized light microscope）是一種鑑定物體結構之光學特性的顯微鏡，請寫出此類顯微鏡的偏光裝置及其位置，（8 分）並說明其應用的基本原理。（10 分）雙折射性是晶體的特徵，請說明雙折射性及其如何利用偏光顯微鏡觀察。（7 分）