阿摩線上測驗
登入
首頁
>
航空測量學與遙感探測
>
110年 - 110 公務升官等考試_薦任_測量製圖:航空測量與遙感測量學#103534
> 申論題
二、試繪圖說明側視空載雷達(Side-Looking Airborne Radar; SLAR)影像之 空間解像力(Spatial Resolutions) 。(25 分)
相關申論題
一、綠蔽率(內政部營建署定義為:某基地範圍內所覆蓋綠色植被的面積比) 常被作為開發基地建設竣工時需要綠化程度之指標,試提出一個應 用遙測影像進行某基地綠蔽率偵測之方法、處理過程與所需之資料。 (25 分)
#437518
三、已知一平坦地面上 A、B 二點之水平距離為 1598.0 ± 0.2 m,於垂直攝影 航空像片(相機焦距為 150.2 mm)上量測得到其像點 a、b 之像片座標 分別為(-12.5 mm, 70.4 mm) 、(88.0 mm, -92.5 mm) ,若量測像片座標計 算像片距離之標準誤差為± 0.5 mm,試求此航空像片之有效飛航高度 H' 及其誤差σH'。(25 分)
#437520
四、試繪圖並說明像幅式航空攝影形成核平面(Epipolar Plane,或簡稱核面) 之攝影現象、幾何條件及數學公式。 (25 分)
#437521
四、試說明空載光達(Airborne LiDAR)之原理、施測流程、資料處理及常 見用途。(25 分)
#555313
三、試說明遙測影像中輻射解析度(radiometric resolution)與光譜解析度 (spectral resolution)之差異,並舉例說明其在地物分類上之重要性。 (25 分)
#555312
二、已知地面上 A、B 兩點之高程分別為 hA=100 m 及 hB=10 m,且兩點於 一航高 1500 m 之垂直攝影航空像片(相機焦距為 152.4 mm)上量測到 其像點 a、b 之像片坐標分別為(-42.35 mm, -38.26 mm)、(50.63 mm, 53.87 mm),試計算 A、B 兩點平面坐標及水平距離。 (25 分)
#555311
一、試說明如何透過常見之可見光至近紅外光(Visible and Near Infrared, VNIR)衛星遙測影像,用以監測山區內新生崩塌地及堰塞湖之可行方法。 (25 分)
#555310
四、成像雷達系統(imaging radar systems)總是朝向雷達天線載具(例如: 衛星或飛機)的飛行方向之側邊(左或右側邊)來發射雷達波和接收雷達回波,故稱為「側視成像雷達(side looking imaging radar)系統」 。請說明成像雷達系統採取側視取像之原因。(25 分)
#500469
三、都市計畫數值地形測量產製的都市計畫地形圖套合數值航測地形圖的時候,兩者的控制點有良好的套合,但是卻常發現兩者的建物圖無法有良好的套合,請說明其原因。(25 分)
#500468
二、使用點密度高達 2 點/m2以上的原始點雲產製高精度高解析度的 1 m 網格之數值覆蓋面模型(Digital Surface Model, DSM),再使用此 DSM 及地面像素解析度(GSD)小於或等於 10 cm 的空拍影像及其方位元素來產製「真實正射影像(true ortho image)」。請說明使用前述真實正射影像 來描繪製作 1/1000 地形圖會遭遇的問題。(25 分)
#500467
相關試卷
114年 - 114 公務升官等考試_薦任_測量製圖:航空測量與遙感測量學#133126
114年 · #133126
112年 - 112 公務升官等考試_薦任_測量製圖:航空測量與遙感測量學#117147
112年 · #117147
112年 - 112 高等考試_三級_測量製圖:航空測量學與遙感探測#115510
112年 · #115510
111年 - 111 高等考試_三級_測量製圖:航空測量學與遙感探測#109494
111年 · #109494
110年 - 110 公務升官等考試_薦任_測量製圖:航空測量與遙感測量學#103534
110年 · #103534
110年 - 110 高等考試_三級_測量製圖:航空測量學與遙感探測#102813
110年 · #102813
109年 - 109 高等考試_三級_測量製圖:航空測量學與遙感探測#88950
109年 · #88950
108年 - 108 公務升官等考試_薦任_測量製圖:航空測量與遙感測量學#80351
108年 · #80351
108年 - 108 高等考試_三級_測量製圖:航空測量學與遙感探測#77847
108年 · #77847
107年 - 107 地方政府特種考試_三等_測量製圖:航空測量學#73620
107年 · #73620