阿摩線上測驗
登入
首頁
>
輻射度量
>
104年 - 104 高等考試_二級_輻射安全:輻射度量#39614
> 申論題
五、請描述在半導體偵檢器中 p-n junction 如何形成?逆向偏壓(reverse bias)如何與半 導體連接?(10 分)
相關申論題
二、請說明氣泡偵檢器(Bubble detector)的原理與特性,並舉一實例說明氣泡偵檢器的 應用。(20 分)
#118685
三、在輻射偵檢器的操作模式中,請描述適合使用脈衝模式(pulse mode)的時機與實 例。此時偵檢器必須包含 RC 電路,請描述當 RC 常數(RC time constant)遠小於 電荷收集時間(charge collection time)與 RC 常數遠大於電荷收集時間的兩種狀況 之下,對於最大脈衝強度與脈衝持續時間的影響為何?(20 分)
#118686
四、在輻射能譜測量術中(spectroscopy),請定義全能譜效率(total efficiency)與光峰 效率(photopeak efficiency),並描述使用光峰效率作為效率指標的兩項優點。 (20 分)
#118687
六、在量測重離子時經常會面臨脈高缺陷(pulse-height defect)的問題,請描述兩種脈 高缺陷的成因。(10 分)
#118689
(二)若在 1000 秒的計測中,收集到的能峰面積是 8500 個計數,請計算 Cs-137 射源的放射活度。 註:662 keV 加馬射線的分支比(每次衰變射出的加馬射線數)= 0.85
#548893
(一)請計算 662 keV 能峰的絕對計測效率(以百分比表示,計算過程及結果皆取到小數點下第 3 位) 。
#548892
四、列舉兩種氣體,可作為慢中子量測的比例計數器,並說明其工作原理。
#548891
(二)若此薄膜射源對 Am-241 的 α 粒子的射源效率是 0.5,對 Cl-36 的 β 粒子的射源效率是 0.8 , 且此比例計數器量測系統有非麻痺型 (nonparalyzable)無感時間 10 μs,請問此薄膜射源中 Am-241 及 Cl-36 的活度各為幾 Bq? 註:射源效率=(自射源表面射出的粒子數/射源內核種衰變產生的粒子數)。
#548890
(一)請繪出此射源條件下,比例計數器操作電壓曲線(以每秒計數率為縱軸,電壓為橫軸)並說明此曲線。
#548889
(二)桌面 Sr-90 活度量測結果及其標準不確定度是多少 Bq/cm2? 註:Sr-90 半衰期 28.8 年,其子核種 Y-90 半衰期 2.7 天。
#548888
相關試卷
114年 - 114 高等考試_三級_輻射安全:輻射度量#128688
114年 · #128688
113年 - 113 高等考試_三級_輻射安全:輻射度量#121294
113年 · #121294
112年 - 112 高等考試_三級_輻射安全:輻射度量#115751
112年 · #115751
111年 - 111 高等考試_三級_核子工程、輻射安全:輻射度量#109577
111年 · #109577
110年 - 110 高等考試_三級_輻射安全:輻射度量#102352
110年 · #102352
110年 - 110 高等考試_二級_輻射安全:輻射度量#101856
110年 · #101856
109年 - 109 高等考試_三級_輻射安全:輻射度量#88621
109年 · #88621
108年 - 108 高等考試_三級_核子工程、輻射安全:輻射度量(重複)#82390
108年 · #82390
108年 - 108 高等考試_三級_核子工程、輻射安全:輻射度量#77734
108年 · #77734
107年 - 107 高等考試_三級_核子工程、輻射安全:輻射度量#70812
107年 · #70812