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申論題

試卷：106年 - 106 原住民族特種考試_三等_測量製圖：平面測量學（包括地籍測量）#64766
科目：平面測量學(包括地籍測量)
年份：106年
排序：0

申論題資訊

試卷：106年 - 106 原住民族特種考試_三等_測量製圖：平面測量學（包括地籍測量）#64766
科目：平面測量學(包括地籍測量)
年份：106年
排序：0

申論題內容

五、請說明全球衛星定位測量技術之基本原理、觀測量種類、最小可解條件以及其精度 特性。（20 分）