申論題 - 阿摩線上測驗

申論題資訊

試卷：111年 - 111 高等考試_三級_材料工程：材料分析#109501
科目：材料分析
年份：111年
排序：0

申論題內容

四、請說明掃描式電子顯微鏡呈像模式中二次電子影像（SEI）與背向散射電子影像（BEI）之優缺點。（20 分）