15. 右圖所示為一帶電粒子偵測器裝置的側視圖：在一水平放置、厚度為d之薄板上下，有強度相同但方向相反之均勻磁場B；上方之磁場方向為射入紙面，而下方之磁場方向為射出紙面。有一帶電量為q、質量為m之粒子進入此偵測器，其運動軌跡為如下圖所示的曲線，粒子的軌跡垂直於磁場方向且垂直穿過薄板。若薄板下方軌跡之半徑R大於薄板上方軌跡之半徑r，設重力與空氣阻力可忽略不計，則粒子穿過薄板時所受到的平均阻力量值為多少？
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15. 右圖所示為一帶電粒子偵測器裝置的側視圖：在一水平放置、厚度為d之薄板上下，有強度相同但方向相反之均勻磁場B；上方之磁場方向為射入紙面，而下方之磁場方向為射出紙面。有一帶電量為q、質量為m之粒子進入此偵測器，其運動軌跡為如下圖所示的曲線，粒子的軌跡垂直於磁場方向且垂直穿過薄板。若薄板下方軌跡之半徑R大於薄板上方軌跡之半徑r，設重力與空氣阻力可忽略不計，則粒子穿過薄板時所受到的平均阻力量值為多少？