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技師◆材料分析技術
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97年 - 97 專技高考_冶金工程技師:材料分析技術#37378
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題組內容
二、下列是以 Cu Kα(波長為 1.542 Å )所獲得的 X 光粉末繞射峰的角度(θ),已知粉 末含有 FCC 與 BCC 兩種晶體結構,請依序寫出這些繞射峰分別對應的晶面米勒指 標與晶體結構。(25 分)
4. 32.54°
其他申論題
【已刪除】一、以下是 3 種不同狀態銅薄膜的 X 光繞射圖譜,圖譜中 2θ 範圍為 45°-54°及 88°-97°, 並顯示出3 種狀態銅晶面米勒指標(hkl)200、311、222 的繞射峰,虛線則為輔助 觀察之用,銅薄膜的狀態為:初鍍膜(As-deposited)及於530°C 與 800°C 分別退火 (Annealed)1 小時。試問從此 X 光繞射圖譜可獲得那些銅薄膜的材料訊息。 (25 分)
#106620
1. 19.89°
#106621
2. 22.36°
#106622
3. 23.14°
#106623
5. 33.76°
#106625
6. 40.67°
#106626
7.41.21°,
#106627
8. 42.89°
#106628
9.49.53°
#106629
10. 58.27°。
#106630