阿摩線上測驗
登入
首頁
>
儀器分析
>
102年 - 102年外交領事及外交行政人員、102年民航人員、102年法務部調查局調查人員、102年國家安全局國家安全情報人員、102年經濟部專利商標審查人員考調查人員三等_化學鑑識組#33146
> 申論題
題組內容
三、X 射線螢光光譜法（XFS）與 X 射線光電子光譜法（XPS）均可用來定性分析材料 表面的元素組成。
⑴請分別說明此兩種光譜分析法的原理。（20 分）
相關申論題
二、請說明質譜法中基質輔助雷射脫附游離法（matrix-assisted laser desorption ionization） 的原理。這種游離法產生的質譜與電灑游離法（electrospray ionization）的質譜最大 差異在那裡？（15 分）
#80083
⑵實際應用於元素分析上，請說明 XPS 具有一項 XFS 欠缺的優點。（5 分）
#80085
⑴減少管壁固定相層的厚度。（3 分）
#80086
⑵增加毛細管柱口徑。（3 分）
#80087
⑶降低樣品注射速度。（3 分）
#80088
⑷提高管柱的溫度。（3 分）
#80089
⑸增加樣品注射口溫度。（3 分）
#80090
⑴請說明電極極化產生的原因。（10 分）
#80091
⑵極化現象對庫倫分析有何影響？（5 分）
#80092
⑶極化現象對電位分析有何影響？（5 分）
#80093
相關試卷
114年 - 114 公務升官等考試_薦任_環境檢驗：儀器分析#133176
114年 · #133176
114年 - 114 高等考試_二級_衛生技術：儀器分析#131603
114年 · #131603
114年 - 114 司法、調查特種考試_三等_鑑識人員、化學鑑識組：儀器分析#130166
114年 · #130166
114年 - 114 關務特種考試_三等_化學工程（選試英文）：儀器分析#126630
114年 · #126630
113年 - 113 調查特種考試_三等_化學鑑識組：儀器分析#122117
113年 · #122117
113年 - 113 關務特種考試_三等_化學工程（選試英文）：儀器分析#119512
113年 · #119512
112年 - 112 地方政府特種考試_三等_化學工程：儀器分析#118384
112年 · #118384
112年 - 112 地方政府特種考試_三等_環境檢驗：儀器分析#118108
112年 · #118108
112年 - 112 地方政府特種考試_四等_環境檢驗：儀器分析概要#118102
112年 · #118102
112年 - 112 公務升官等考試_薦任_環境檢驗：儀器分析#117131
112年 · #117131
阿摩線上測驗
登入
阿摩線上測驗
登入