題組內容

三、X 射線螢光光譜法（XFS）與 X 射線光電子光譜法（XPS）均可用來定性分析材料 表面的元素組成。

⑵實際應用於元素分析上，請說明 XPS 具有一項 XFS 欠缺的優點。（5 分）