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技檢◆化學-無機物檢驗-甲級
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114年 - 03002 化學─無機物檢驗 甲級 工作項目 02:無機微量分析 101-150(2025/10/21 更新)#132506
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複選題
122. 下列敘述哪些正確?
(A)FAAS 適用於測定濃度的範圍在 mg/L
(B)冷汞蒸氣原子吸收光譜法適用於 Hg 測定
(C)GFAAS 適用於測定濃度的範圍在μg/L
(D)氫化反應原子吸收光譜法無法適用於 As 測定 。
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B1 · 2025/10/28
#6983083
題目解析 本題是複選題,要求挑選正確的敘...
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相關試題
101. X-射線繞射法最常用來鑑定物質的何種特性? (A)官能基種類 (B)分子質量 (C)化學鍵能強弱 (D)晶體結構 。
#3641770
102. 下列敘述,何者正確? (A)光學顯微鏡:使用可見光,可分析晶體結構及化學成分分析 (B)X 光繞射分析儀:使用 X 光,鑑別率約為 1μm ,可分析化學鍵能強弱 (C)電子顯微鏡:使用電子束,可觀察微細結構,分析化學鍵能強弱 (D)電子顯微鏡:使用電子束,可觀察微細結構,分析晶體結構及作化學成分分析 。
#3641771
103. 下列有關電子顯微鏡的敘述,何者錯誤? (A)利用電子束和電子透鏡代替光束和光學透鏡,可得樣品的細微結構 (B)穿透式電子顯微鏡的加速電壓與分辨原子的能力無關 (C)穿透式電子顯微鏡利用電磁透鏡收集穿透樣品的電子,並放大成像,顯示物體内部超微結構 (D)掃描式電子顯微鏡利用二次電子成像,觀察樣品表面立體的結構 。
#3641772
104. 下列有關電子顯微鏡像能的像差種類的敘述,何者正確? (A)提高電子束波長或提高透鏡品質(半張角)可降低繞射像差 (B)降低電子束直徑或提高電子束半張角可降低球面像差 (C)因透鏡磁場分佈均勻所致,可利用像差調節器修正散光像差 (D)因高壓系統或透鏡電流不穩定,降低加速電壓並使用場發射電子槍,可降低波長散佈像差 。
#3641773
105. 下列有關掃描式電子顯微鏡的電子槍敘述,何者正確? (A)一般電子槍材料須考量低功函數、高熔點、高機械強度 (B)冷發式的電子槍中的陰極半徑大,能量散佈大 (C)冷發式的電子槍電子束聚焦小,工作溫度高 (D)蕭基場發射式電子槍為提升功函數,在鎢絲表面鍍上一層 ZnO 。
#3641774
106. 下列有關 XRF 分析儀的敘述,何者錯誤? (A)快速並可同時偵測不同能量的 X-光能譜 (B)定量能力較佳 (C)可得較佳的空間解析度 (D)對輕元素的偵測能力差 。
#3641775
107. 下列有關穿透式電子顯微鏡功能的敘述,何者正確? (A)顯微結構觀察(B)晶體結構分析 (C)化學結構分析 (D)化學成分分析 。
#3641776
108. 聚焦式離子束顯微鏡使用鎵當離子源的原因為 (A)低熔點 (B)低蒸氣壓 (C)良好抗氧化能力 (D)高的機械強度 。
#3641777
109. 有關 ICP 原子發射光譜的敘述,何者正確? (A)由光源提供能量使樣品蒸發形成氣態原子,並使氣態原子激發後產生光輻射 (B)ICP 的再現性比原子吸收光譜好 (C)偵檢器可檢測出譜線的波長和強度 (D)只可進行元素的定量分析 。
#3641778
110. 有關即時空氣污染指標(PSI),必須計算出當時空氣哪 5 種污染物即時污染物質濃度,再對應此五種測項之即時副指標值? (A)PM10、SO2、CO、O3、NO2(B)PM10、SO2、CO2、O3、NO2(C)PM2. 5、SO2、CO、O3、NO2(D)PM2. 5、SO2、CO2、O3、NO2。
#3641779
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