複選題143. 下列有關無機材料性質的分析方法，哪些正確？ (A)X 光單晶繞射或粉末繞射可以得知無機材料分子結構 (B)掃描式電子顯微鏡(SEM)可以得到材料表面之幾何結構 (C)二次離子質譜儀分析(SIMS)可以得知無機材料表層原子的能階結構 (D)陰極射線激發放光(CL)可以得到材料表面的吸光發光特性。