複選題
65.下列有關無機材料性質的分析方法,哪些正確?
(A)X 光單晶繞射或粉末繞射可以得知無機材料分
子結構
(B)陰極射線激發放光(CL)可以得到材料表面的吸光發光特性
(C)二次離子質譜儀分析(SIMS)
可以得知無機材料表層原子的能階結構
(D)掃描式電子顯微鏡(SEM)可以得到材料表面之幾何結
構。
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統計: 尚無統計資料
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