試題詳解

試卷：無年度 - 03002 化學─無機物檢驗甲級工作項目 02：無機微量分析#19246 | 科目：技檢◆化學-無機物檢驗-甲級

試卷資訊

試卷名稱：無年度 - 03002 化學─無機物檢驗甲級工作項目 02：無機微量分析#19246

科目：技檢◆化學-無機物檢驗-甲級

21. X-射線繞射法所根據的定律為何？
(A)比耳定律
(B)布拉格定律
(C)Duane-Hunt 定律
(D)克希荷夫定律。

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