試題詳解

試卷：113年 - 113 國立中山大學_學士後醫學系招生考試：物理及化學#119273 | 科目：學士後西醫物理及化學

試卷資訊

試卷名稱：113年 - 113 國立中山大學_學士後醫學系招生考試：物理及化學#119273

年份：113年

科目：學士後西醫物理及化學

29. Ellipsometry is commonly used to measure the thickness of films. Which of the following signal is detected in ellipsometry?
(A) resonance angle
(B) reflected laser spot
(C) second-harmonic generation
(D) polarized light
(E) none of the above

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