試題詳解

複選題
65.下列有關無機材料性質的分析方法，哪些正確？
(A)X 光單晶繞射或粉末繞射可以得知無機材料分 子結構
(B)陰極射線激發放光(CL)可以得到材料表面的吸光發光特性
(C)二次離子質譜儀分析(SIMS) 可以得知無機材料表層原子的能階結構
(D)掃描式電子顯微鏡(SEM)可以得到材料表面之幾何結 構。