試題詳解

試卷：109年 - 109-3 全國技術士技能檢定學科_甲級：03002化學─無機物檢驗#93389 | 科目：技檢◆化學-無機物檢驗-甲級

試卷名稱：109年 - 109-3 全國技術士技能檢定學科_甲級：03002化學─無機物檢驗#93389

年份：109年

科目：技檢◆化學-無機物檢驗-甲級

複選題
74.下列哪些方法可用來校正原子吸收光譜法中的背景干擾
(A)連續光源校正法
(B)Smith- Hieftje 校正法
(C)Zeeman 效應法
(D)加入內標物校正。

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