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航空測量學與遙感探測
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103年 - 103 高等考試_三級_測量製圖:航空測量學與遙感探測#25067
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申論題
試卷:103年 - 103 高等考試_三級_測量製圖:航空測量學與遙感探測#25067
科目:航空測量學與遙感探測
年份:103年
排序:0
申論題資訊
試卷:
103年 - 103 高等考試_三級_測量製圖:航空測量學與遙感探測#25067
科目:
航空測量學與遙感探測
年份:
103年
排序:
0
題組內容
三、通常使用影像的誤差矩陣(error matrix)來表示分類問題的精準度,以監督式分類 法(supervised classification)概念為例,若有 A 與 B 兩類,請用圖、表、文字與公 式說明下列問題:
申論題內容
(1)請繪圖說明一個完整的分類程序。(5 分)