申論題 - 阿摩線上測驗

申論題資訊

試卷：103年 - 103 高等考試_三級_測量製圖：航空測量學與遙感探測#25067
科目：航空測量學與遙感探測
年份：103年
排序：0

二、遙測影像分類時，經常使用參數型的最大概似分類器（Maximum Likelihood Classifier），請問：

(2)上式在推求何種參數後，將可描述某一特定像元在一特定地表覆蓋物分類時的統計機率？（4 分）