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申論題

試卷：96年 - 96 專利商標審查特種考試_三等_控制工程：量測與儀表學#49337
科目：量測與儀表學
年份：96年
排序：0

申論題資訊

試卷：96年 - 96 專利商標審查特種考試_三等_控制工程：量測與儀表學#49337
科目：量測與儀表學
年份：96年
排序：0

申論題內容

一、如何區分（或定義）直接測量法與間接測量法？且各舉一例說明。（10 分）