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申論題資訊

試卷:96年 - 96 專利商標審查特種考試_三等_控制工程:量測與儀表學#49337
科目:量測與儀表學
年份:96年
排序:0

申論題內容

二、測量時難免有“誤差",請依誤差的來源加以分類之,並說明這些誤差的起因及 如何避免(或因應之道)?(15 分)