阿摩線上測驗
登入
首頁
>
測量學(概要、大意)
>
110年 - 110 高等考試_三級_測量製圖:測量學(包括地籍測量)#102736
> 申論題
申論題
試卷:110年 - 110 高等考試_三級_測量製圖:測量學(包括地籍測量)#102736
科目:測量學(概要、大意)
年份:110年
排序:0
申論題資訊
試卷:
110年 - 110 高等考試_三級_測量製圖:測量學(包括地籍測量)#102736
科目:
測量學(概要、大意)
年份:
110年
排序:
0
申論題內容
三、何謂細部測量?以現有全測站儀(Total Station)具測方向讀數、測距、 資料儲存與運算之功能,試說明自由測站法和輻射法執行細部測量之原 理並比較其差異性。