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113年 - 電子元件拆銲學科300題 1-50#123532
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試題詳解
試卷:
113年 - 電子元件拆銲學科300題 1-50#123532 |
科目:
電子元件拆銲
試卷資訊
試卷名稱:
113年 - 電子元件拆銲學科300題 1-50#123532
年份:
113年
科目:
電子元件拆銲
44 數位 IC 測試器無法測試下列何種 IC
(A) 74LS32
(B) 7447
(C) NE555
(D) 4017。
正確答案:
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詳解 (共 1 筆)
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