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試題詳解

試卷:113年 - 電子元件拆銲學科300題 1-50#123532 | 科目:電子元件拆銲

試卷資訊

試卷名稱:113年 - 電子元件拆銲學科300題 1-50#123532

年份:113年

科目:電子元件拆銲

44 數位 IC 測試器無法測試下列何種 IC
(A) 74LS32
(B) 7447
(C) NE555
(D) 4017。
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詳解 (共 1 筆)

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