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110年 - 110 高等考試_三級_材料工程:材料分析#102741
> 申論題
一、空間解析度(spatial resolution)是成像技術重要規格,請分別對光學顯 微鏡(OM) ,穿透式電子顯微鏡(TEM)及掃描式電子顯微鏡(SEM) , 論述決定其空間解析度的成因,並敘述如何提升其空間解析度。 (25 分)
相關申論題
二、以繞射理論為基礎,為何結晶體中有些平面族不會產生繞射?這個現象 也可以從結構因子(structure factor)來求解,請先推導結構因子的數學 式,再利用此數學式來論述同屬體心立方結構的 NaCl 及 Si 的可繞射面 及不可繞射面的條件。(25 分)
#433322
三、二次離子質譜儀(SIMS)與拉賽福背向散射分析儀(RBS)是兩個相似 的成分分析技術,同樣以離子為入射源且以離子為接收訊號源,試申論 在碰撞機制、結果呈現、提供分析資訊有何差異性。 (25 分)
#433323
四、X-光光電子能譜儀(XPS)與歐傑電子能譜儀(AES)都是分析化學鍵 結非常有用的技術,請先論述個別技術之原理,說明其結果呈現方式, 再詳細說明這兩個技術之不同處。電子能量損失能譜圖(EELS)比上述 兩個技術上有何分析上的優勢?(25 分)
#433324
四、請說明掃描式電子顯微鏡呈像模式中二次電子影像(SEI)與背向散射電 子影像(BEI)之優缺點。(20 分)
#469132
(二)感應耦合電漿發射光譜圖(ICP-OES)可用來解析微量元素分析之原理。
#469131
(一) X 光光電子能譜圖(XPS)可用來解析材料表面之化學價態之原理。
#469130
(二)請比較拉曼光譜儀中斯托克(Stokes)與非斯托克(Anti-Stokes)兩種 拉曼散射頻率、能階與強度之差異。 (15 分)
#469129
(一)請說明拉曼光譜儀分析材料化學結構的原理。(10 分)
#469128
(二)若此單一結晶結構屬面心立方晶系,請說明米勒指數均為奇數、均為 偶數,或奇偶摻雜的條件下之對繞射強度的影響。(15 分)
#469127
(一)請說明影響無順向性且單一結晶結構材料繞射強度的主要參數。 (20 分)
#469126
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