一、考量摻雜砷原子濃度8×1015 cm-3的矽半導體材料,其電子移動率 (electron mobility)與電洞移動率(hole mobility)分別是1350 cm2 /V sec 和480 cm2 /V sec;在絕對溫度為300 K,外加電場100 V/cm時,請計算其 漂移電流密度(drift current density)之大小。