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積體電路技術
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102年 - 102 公務升官等考試_簡任_電子工程:積體電路技術研究#43806
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二、討論 N 型 Si 基板與金屬的 Heterojunction 接面,因為製程上有什麼差異,因此而 會形成肖基二極體(Schottky Barrier Diode)或歐姆接觸(Ohmic Contact)兩種不 同的元件行為。(20 分)
其他申論題
⑵某淨水廠處理原水 20000 m3/d,原水總鹼度 25 mg/L as HCO3-。使用硫酸鋁為混 凝 劑 , 加 藥 濃 度 30 mg/L 。 請 計 算 每 天 硫 酸 鋁 ( 純 度 100% ) 用 量 (kg/d as Al2(SO4)3)。又水中鹼度夠嗎?若不夠,則需加多少石灰(純度 100%)(kg/d as Ca(OH)2)才可補足鹼度。(15 分)
#142172
【已刪除】 ⑴假設「前置反硝化」程序為完全混合式,且可完全硝化、完全好氧 BOD 氧化及 完全反硝化,且進流水資料如下: 請繪圖描述「前置反硝化」程序,並標示硝化、好氧 BOD 氧化及反硝化、流量 (含回流)和各種基質。(15 分)
#142173
⑵微生物利用電子供體(electron donor)基質進行合成代謝,一部分電子(fe0)先 傳遞給電子受體(electron acceptor),用以產生能量(energy production);其他 電子(fs0)用以合成細胞(cell synthesis)。對於反硝化過程,(1)電子供體、(2) 電子受體及(3)細胞合成(假設氮源是 NH4+-N)的半反應式、(4)fs 分列如下: (1) 1/50 C10H19O3N + 9/25 H2O→ 9/50 CO2 + 1/50 NH4+ + 1/50 HCO3- + H+ + e- (2) 1/5 NO3- + 6/5 H+ + e- 1/10 N2 + 3/5 H2O (3) 1/20 NH4+ + 1/5 CO2 + 1/20 HCO3- + H+ + e- 1/20 C5H7O2N + 9/20 H2O (4) f = f 0 [1 +(1 – f )bθ ]/(1 + bθ ) s s d x x θx:固體停留時間(solids retention time, SRT) fd:活性微生物中可生物降解的部分 b:內源衰減係數(endogenous-decay coefficient) 以上顯示,反硝化程序 SRT 的變化將影響 fs,細胞淨產率(Yn(den)),氮和 BOD 轉 化的比例。假設 fs0 = 0.52,fd = 0.8,b = 0.05,θx = 16 d。請問 fs、細胞實際產率 (Y n(den)) g VSSa/g BODL、細胞淨產率(Yn(den)) g VSSa/g BODL、氮和 BOD 轉化的比 例(g NH4+-N/g BODL)分別為多少?(15 分)
#142174
一、何謂 CMOS n-well 技術?試繪剖面圖(cross-sectional view)說明 NMOS 及 PMOS 的結構。同時將兩者均採操作於 Saturation Mode 之下畫出其通道形式。注意通道 厚度、長度並標示出 Source 及 Drain 兩端點的位置。(20 分)
#142175
三、為了製程可靠度的要求,CMOS 製程可能在製作過程面臨 Antenna effects issue(天 線效應)問題,請簡要敘述該問題及其解決方法。(20 分)
#142177
四、請分別敘述半導體中兩種摻雜技術的特性及不同處。若要形成 MOS 元件的 Source /Drain 應採何者較合宜?(20 分)
#142178
五、矽晶體之晶格常數為 5.43 埃,請依此計算出矽晶體之體積密度,即一立方公分的矽 晶體約有多少個矽原子?並說明矽晶體摻雜 Nd 及 Na 時,合理的濃度值範圍應為多 少較合宜?(20 分)
#142179
㈠若此 3 人使用 ATM 的時間為互相獨立,請寫出 T 之分配及其均數與標準差。 (8 分)
#142180
㈡若某甲希望這 3 個人使用之總時間能少於 4 分鐘,請計算此一機率為何?(7 分)
#142181
⑴求得 k 值,使其滿足 f 為一機率密度函數。(10 分)
#142182