阿摩線上測驗
登入
首頁
>
測量學(概要、大意)
>
101年 - 101 地方政府特種考試_四等_測量製圖:測量學概要(包括地籍測量)#44350
> 申論題
申論題
試卷:101年 - 101 地方政府特種考試_四等_測量製圖:測量學概要(包括地籍測量)#44350
科目:測量學(概要、大意)
年份:101年
排序:0
申論題資訊
試卷:
101年 - 101 地方政府特種考試_四等_測量製圖:測量學概要(包括地籍測量)#44350
科目:
測量學(概要、大意)
年份:
101年
排序:
0
申論題內容
五、測距方法中有視距測量及視角測距兩種,請說明兩者有何不同?(12 分)並請繪圖 說明上述兩者的視距原理。(8 分)