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98年 - 98 高等考試_三級_電子工程:半導體工程#40370
科目:
半導體工程 |
年份:
98年 |
選擇題數:
0 |
申論題數:
8
試卷資訊
所屬科目:
半導體工程
選擇題 (0)
申論題 (8)
【已刪除】一、請在如下圖的直角座標系中,畫出(2 3 3)平面。(10 分)
二、請說明何謂直接能隙(direct bandgap)?何謂間接能隙(indirect bandgap)?砷化 鎵是那一種能隙的材料?(10 分)
三、以強光照射一 n 型半導體晶片表面,請繪出從表面到晶片深處的能帶圖,包括導帶、 價帶、電子和電洞的準費米能階(quasi-Fermi level)。(15 分)
【已刪除】四、有一均勻摻雜的p型半導體薄片,長度(L)是 1 cm,寬度(w)是 0.1 cm,厚度 (t)是 10 µm,電流從左側平行流過。如果電洞濃度是 1×10
15
cm
-3
,電洞遷移率是 500 cm
2
/V,請估算此薄片的電阻係數、片電阻、總電阻。(15 分)
五、請說明如何從順向偏壓的電流-電壓特性,計算金屬-半導體接面的蕭基位障(Schottky barrier)高度。(15 分)
六、請畫出Metali/SiO2/p-type Si在accumulation, depletion, inversion三種狀態的能帶圖。 (15 分)
七、一層厚度 100 nm 的矽薄膜,如果要用氧化的方式,將 Si 厚度減薄到 50 nm,請問 需要成長多厚的氧化層?(10 分)
八、繪圖說明何謂等向性蝕刻(isotropic etching)、非等向性蝕刻(anisotropic etching)? 以HF和HNO
3
混合溶液蝕刻Si是屬於那一種?(10 分)