三、為了要校正測量槽(measurement cells)的內部光學路徑或要計算透明薄 膜(film)的厚度,其折射率為 n(除非這些是反射式的) ,我們採用干涉測量法,其在於記錄空的測量槽(或薄膜)於波數()在與間的穿透度(transmittance)。所得到的圖呈現波線(參見下圖)。
(一)試推導方程式,以計算問題中(測量槽或薄膜)的路徑厚度。 (15 分)