偵測極限泛指檢測過程能夠定量的最低待檢物濃度,可以區分為儀器偵測極限(Instrument detection limit, IDL)及方法偵測極限 (Method detection limit, MDL)。二者簡單的定義如下:
1.儀器偵測極限(Instrument detection limit, IDL)
為待測物之最低量或最小濃度,足夠在儀器偵測時,產生一可與空白訊號區別之訊號者。亦即該待測物之量或濃度在99 %之可信度下,可產生大於平均雜訊之標準偏差3倍之訊號。
2.方法偵測極限(Method detection limit, MDL)
指待測物在某一基質中以指定檢測方法所能測得之最低濃度,對此濃度有99%之可信度(Confidence level)。